By Instrument Category- 华南师范大学分析测试中心

Name

Field Emission Transmission Electron Microscope

Type specification

FEI Talos F200X

Manufacturer

FEI

Start date

2018-09-01

Affiliated unit

School of Chemistry

Instrument manager

Installation site

大学城校区理2栋115室

Contact information

电子枪

热场发射

加速电压

200 kV

TEM点分辨率

0.25 nm

线分辨率

0.14 nm

信息分辨率

0.12 nm

STEM分辨率

0.16 nm

放大倍数

25~1500000 (TEM), 150~2300000 (STEM)

EDS分辨率

136 eV

主要配置

CCD数字成像系统，X射线能谱仪（EDS），扫描透射（STEM），高角环形暗场探测器（HAADF）

特色及用途

该仪器具有衍衬成像、高分辨成像、Z衬度成像、电子衍射、能谱分析和三维重构等多种功能，属于分析型透射电子显微镜，可实现材料微观组织形貌、晶体结构和微区成分的同位分析。
该仪器采用场发射电子枪，具有较高的分辨率，特别适用于高分辨电子显微分析。
同时该仪器该配备Super-X EDS能谱仪系统，4个SDD探头，有效探测器面积达120 mm²，能量分辨率为136 eV，能快速进行STEM和EDX的二维和三维成分、图像采集，实现多维快速化学分析。
样品类型包括金属材料、金属基复合材料和陶瓷及陶瓷基复合材料的薄膜样品，以及各种形状的纳米材料等。

样品要求

不测磁性样品！

序号	仪器测试收费项目	费用类别	单位	校内收费标准	校外收费标准	备注