各位老师、同学：

分析测试中心购置的Thermo Scientific Talos F200X G2冷场发射透射电子显微镜已完成安装调试进入试运行，欢迎广大师生预约使用！

一、技术参数

1. 电子枪：冷场发射电子枪（X-CFEG），能量分辨率≤0.3eV
2. 加速电压：80 kV、200 kV 
3. TEM模式：点分辨率≤0.25 nm；线分辨率≤0.11nm
4. STEM模式：分辨率≤ 0.14 nm
5. 洛伦兹模式：分辨率≤ 2.2 nm
6. TEM模式放大倍数25 ～ 1.05 Mx；STEM模式放大倍数：285～330 Mx
7. 能谱：四探头无窗Super-X EDS、分辨率129 eV (Mn-Kα)
8. 相机：底插式CMOS相机（Ceta-S）

二、仪器功能及应用范围

1. 透射模式（TEM）：形貌像（明场、暗场）、高分辨像（HRTEM）、电子衍射（SAED）
2. 扫描透射模式（STEM）：高角环形暗场（HAADF）、暗场（DF）/环形暗场（ADF）、明场（BF）/环形明场（ABF）等探测器，可实现差分相位衬度成像（DPC/iDPC/dDPC-STEM）
3. 能谱(EDS)：点分析、面分析（EDS Mapping）

三、主要附件

1. Fischione 2550 三维重构冷冻传输样品杆系统：集成了三维重构和冷冻传输功能，提供高分辨率（0.18 nm）和低温工作能力（<-175°C）。

2. 速普 IC150等离子体清洗仪：通过RF射频电源将空气离化后产生的氧活性自由基、 臭氧及氧等离子体等强氧化粒子与样品表面有机污染物发生化学反应，生成 CO2 和 H2O 等气体并被真空泵组抽出，最终实现样品杆或样品表面有机污染物清洗之目的。需要拍摄高倍stem以及一些较容易积碳的样品，建议可先进行等离子清洗后再上机。

四、样品要求
1、粉末样品：为避免粉末脱落污染电镜，粒径需小于1um。大颗粒粉末样品请研磨或包埋切片处理后再观察；高分辨样品要求厚度小于20 nm，普通碳支持膜厚度通常为10-20 nm，高分辨观察推荐用超薄碳网。
2、薄膜样品：厚度一般需小于50nm，因材料而异；
3、其它类样品须自行制样处理；校内测试一般不接受委托制样，但可提供制样指导。使用水分散的粉末样品请提前一天制样并在干燥箱中干燥保存。
4、拒绝接受强磁性、放射性、挥发性、不符合生物安全标准及不耐电子束轰击类样品、以及易被电磁透镜吸引的粉末样品。透射电镜不能直接观察含有铁钴镍等磁性元素的样品，粉末样品需包埋切片处理，块体样品需要FIB切片。